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ATP2000:固態(tài)納米復(fù)合薄膜的寬帶光學(xué)限制性能研究

點(diǎn)擊次數(shù):35  更新時(shí)間:2025-10-28

在激光技術(shù)飛速發(fā)展的今天,如何有效保護(hù)精密光學(xué)元件和人眼免受強(qiáng)激光損傷,已成為重要的科研課題。光學(xué)限制材料,能夠在激光強(qiáng)度過(guò)高時(shí)自動(dòng)降低透光率,是解決這一問(wèn)題的關(guān)鍵。

在關(guān)于三氧化鎢-聚醇(乙烯醇)(WO3/PVA)固態(tài)納米復(fù)合薄膜的性能研究中,研究人員采用奧譜天成ATP2000系列光譜儀,為該復(fù)合薄膜的寬帶和強(qiáng)光學(xué)限制(OL)效應(yīng)研究提供了關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐。



研究亮點(diǎn):高性能固態(tài)光學(xué)限制薄膜

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該研究成功制備了不同濃度的WO?/PVA固態(tài)納米復(fù)合薄膜,并系統(tǒng)評(píng)估了其在紫外(355 nm)、可見(jiàn)光(532 nm)與近紅外(1064 nm)波段的非線性光學(xué)特性與光學(xué)限制性能。



實(shí)驗(yàn)裝置


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圖1. 開(kāi)孔Z-掃描實(shí)驗(yàn)裝置。BS:分束鏡,L1:凹透鏡,L2 和 L3:聚焦透鏡,S:WO/PVA 樣品,D1 和 D2:檢測(cè)器。

Z 掃描方法是測(cè)量各種材料的非線性折射率和 非線性吸收系數(shù)的最&常&用方法。使用 OA-Z掃描技術(shù)研究樣品的非線性光學(xué)特性,實(shí)驗(yàn)設(shè)置如圖1所示。Nd-YAG 脈沖激光器用作激光源,脈沖重復(fù)頻率為 10 Hz,脈沖寬度為4ns,波長(zhǎng)為355、532和1064nm。激光束被分束器分成兩束,一束用作參考,另一束擴(kuò)束后聚焦在樣品上。探測(cè)器 D1 和 D2(熱釋電傳感器)分別用于收集和測(cè)量參考光束和通過(guò)薄膜傳輸?shù)墓馐?/span>



研究結(jié)果


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圖2. PVA和WO3/PVA納米復(fù)合薄膜的光學(xué)吸收光譜。插圖:WO3/PVA納米復(fù)合薄膜的光學(xué)帶隙。

通過(guò)光纖光譜儀(ATP2000系列,Optosky) 測(cè)量 WO3/PVA薄膜的線性光學(xué)性能。

復(fù)合薄膜的光學(xué)吸收光譜如圖2所示。300nm附近的強(qiáng)吸收帶對(duì)應(yīng)于 PVA 的吸收帶。WO3膜具有寬吸收帶,其最大吸收峰位于約590nm處。

吸收光譜對(duì)應(yīng)于從價(jià)帶到導(dǎo)帶的電子激發(fā),因此可以通過(guò)Tauc關(guān)系來(lái)確定WO3/PVA 納米復(fù)合薄膜的光學(xué)帶隙(E)。



實(shí)驗(yàn)結(jié)論

研究結(jié)果表明:

  • 寬帶有效:該納米復(fù)合薄膜在紫外、可見(jiàn)和紅外波段均表現(xiàn)出強(qiáng)烈的光學(xué)限制效應(yīng),尤其在355 nm紫外波段性能最為突出。

  • 性能卓&越:薄膜的非線性吸收系數(shù)(β)遠(yuǎn)超此前報(bào)道的WO?納米顆粒懸浮液、氧化石墨烯、碳納米管等多種材料,顯示出巨大的應(yīng)用潛力。

  • 機(jī)制明晰:其非線性效應(yīng)主要源于紫外和可見(jiàn)波段的自由載流子吸收,以及紅外波段的雙光子吸收。


為何選擇ATP2000?


  • 高精度與穩(wěn)定性:確保吸收光譜數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確與可靠,為定量分析奠定基礎(chǔ)。

  • 靈活的光纖設(shè)計(jì):便于集成到各種實(shí)驗(yàn)光路中,輕松完成對(duì)固態(tài)薄膜樣品的透射/吸收測(cè)量。

  • 專業(yè)的數(shù)據(jù)支持:為材料的光學(xué)性能評(píng)估提供實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)支持。

結(jié)語(yǔ)

這項(xiàng)研究成果彰顯了WO?/PVA固態(tài)納米復(fù)合薄膜作為高性能、寬帶光學(xué)限制器的巨大潛力,為開(kāi)發(fā)新一代激光防護(hù)設(shè)備提供了有價(jià)值的材料選擇。

同時(shí),也進(jìn)一步驗(yàn)證了奧譜天成ATP2000光譜儀在半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用潛力。




奧譜天成將繼續(xù)致力于為科研與工業(yè)用戶提供高性能的光譜檢測(cè)解決方案,助力科技創(chuàng)新,精準(zhǔn)捕捉每一束光的科學(xué)信息。



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